蔡司金相顯微鏡Axio Imager 2

Axio Imager 2

用于材料研究的電動顯微鏡平臺

用于高級材料研究的顯微鏡系統(tǒng)

將易操作性引入顯微工作流程 - Axio Imager 2 確保在質(zhì)量檢驗和流程控制中提供精準(zhǔn)且可重復(fù)的結(jié)果。

Axio Imager 2 擁有出色的光學(xué)鏡頭和均勻照明的特性。觀察方式和光路管理器能夠確保預(yù)設(shè)條件和可重復(fù)的結(jié)果。配置了 ACR 功能的 Axio Imager.Z2m 能自動檢測和選擇物鏡以及觀察方式模塊。

從四種不同的主機(jī)架中選擇您需要的系統(tǒng)，并借助專業(yè)解決方案擴(kuò)展應(yīng)用：Particle Analyzer、關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)或 LSM 700。

具有超高對比度和分辨率的出色光學(xué)系統(tǒng)

模塊化主機(jī)設(shè)計，利用一系列電動和編碼組件增強(qiáng)靈活度

穩(wěn)定的主機(jī)和無振動的工作環(huán)境能夠確保觀測結(jié)果的可重復(fù)性

使用激光共聚焦掃描顯微鏡 LSM 700 對 Axio Imager 2 進(jìn)行升級

在關(guān)聯(lián)顯微系統(tǒng)的工作和顆粒度分析中使用 Axio Imager 2

在質(zhì)量檢驗和流程控制中，自動化功能可確保重復(fù)檢測結(jié)果的精準(zhǔn)

觀察方式選擇

研究和檢測不同材料。分析金屬結(jié)構(gòu)、復(fù)合材料、玻璃、木材和陶瓷。檢查聚合物和液晶。

多種觀察方式可供選擇，以獲得更多豐富的信息。使用反射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、圓微分干涉（C-DIC）、偏光或熒光下觀察樣品。使用透射光，在明場、暗場、微分干涉（DIC）、偏光或圓偏光下檢測樣品。

觀察方式管理器能確保 Axio Imager 2 的照明設(shè)置可復(fù)制。

出眾的表面應(yīng)用

Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 可以在觸摸屏上顯示關(guān)鍵操作功能，使用指尖控制所有電動組件。

其他控制按鈕依照人體工程學(xué)方式排列在調(diào)焦驅(qū)動裝置周邊，可通過觸覺輕易的區(qū)分各控制按鈕。

Axio Imager.D2m 有 5 個預(yù)編程按鈕，而 Axio Imager.Z2m 則有 10 個用戶自定義按鈕。

Linkam 熱臺 - 靈活記錄溫度變化

您是否想研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料的影響？

結(jié)合 AxioVision 成像軟件和 Linkam 熱臺便可定制您的加熱或制冷實驗。在時間序列中顯示溫度值。每幅時間序列圖像中記錄了溫度和真空數(shù)據(jù)。例如在質(zhì)量控制應(yīng)用領(lǐng)域中觀察樣品在加熱和冷卻過程中的變化。